PHYNIX涂层测厚仪Surfix easy x I-F

涂层测厚仪Surfix easy x I-F，
优点：
1、免校准，开机即可测量；
2、背光显示，暗黑环境下也能轻松测量；
3、配备硬质合金耐磨测芯，大大提高探头使用寿命
4、自动识别基材测量铁/钢和有色金属

涂层测厚仪Surfix easy x I-F

应用领域：可用于测量油漆、涂料、电镀、汽车制造、船舶、钢铁建筑等。

优点：

1、免校准，开机即可测量；

2、背光显示，暗黑环境下也能轻松测量；

3、配备硬质合金耐磨测芯，大大提高探头使用寿命

4、自动识别基材测量铁/钢和有色金属

5、在线统计（数量，平均数，标准差，Z小值，Z大值）

6、大的接触面积，定位更方便

7、带制造商检测证书

Surfix easy X系列膜厚仪适用于日常操作及严苛的实验室测量，简单方便。

Surfix easy X系列共有4个版本：

Surfix easy X I-FN：内置探头，磁感应+电涡流(两用一体机)

Surfix easy X I-F：内置探头，磁感应（铁基一体机）

Surfix easy X E-FN：外置探头，磁感应+电涡流(两用分体机)

Surfix easy X E-F：外置探头，磁感应（铁基分体机）

涂层测厚仪Surfix easy x I-F

技术参数: